Описание
Анализаторы автоматические OBLF мод. GS 1000, GS 1000-II, QSN 750, QSN 750-II, QSG 750, QSG 750-II, VeOS — техническое средство с номером в госреестре 47577-11 и сроком свидетельства (заводским номером) 22.07.2026. Имеет обозначение типа СИ: OBLF мод. GS 1000, GS 1000-II, QSN 750, QSN 750-II, QSG 750, QSG 750-II, VeOS. Произведен предприятием: Фирма "OBLF Gesellschaft fur Elektronik und Feinwerktechnik mbH", Германия.
Требуется ли периодическая поверка прибора?
Наличие периодической поверки: Да. Периодичность проведения поверки установлена изготовителем средства измерения и составляет: 1 год Узнать о ее сроках можно также в техническом паспорте, который прилагается к данному прибору.
Допускается ли поверка партии?
Допущение поверки партии приборов: Нет.
Методика поверки:
Анализаторы автоматические OBLF мод. GS 1000, GS 1000-II, QSN 750, QSN 750-II, QSG 750, QSG 750-II, VeOS.С методикой поверки прибора вы можете ознакомиться по ссылке: Скачать Документ содержит последовательность действий, реализация которых позволит подтвердить соответствие прибора метрологическим требованиям, принятым при утверждении типа средства измерений.
Описание типа:
Анализаторы автоматические OBLF мод. GS 1000, GS 1000-II, QSN 750, QSN 750-II, QSG 750, QSG 750-II, VeOS.С более детальным описанием прибора можно ознакомиться по ссылке: Описание прибора: Скачать. Документ содержит технические, метрологические характеристики, данные о погрешности измерения и другую полезную информацию.
Изображение | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
Номер в госреестре | 47577-11 | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
Наименование | Анализаторы автоматические | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
Обозначение типа | OBLF мод. GS 1000, GS 1000-II, QSN 750, QSN 750-II, QSG 750, QSG 750-II, VeOS | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
Производитель | Фирма "OBLF Gesellschaft fur Elektronik und Feinwerktechnik mbH", Германия | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
Описание типа | Скачать | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
Методика поверки | Скачать | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
Межповерочный интервал (МПИ) | 1 год | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
Допускается поверка партии | Нет | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
Наличие периодической поверки | Да | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
Сведения о типе | Срок свидетельства | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
Срок свидетельства или заводской номер | 22.07.2026 | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
Назначение | Анализаторы автоматические OBLF модели GS 1000, GS 1000-II, QSN 750, QSN 750-II, QSG 750, QSG 750-II, VeOS предназначены для измерения концентрации химических элементов в металлах и сплавах. | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
Описание | Принцип действия анализаторов автоматических OBLF моделей GS 1000, GS 1000-II, QSN 750, QSN 750-II, QSG 750, QSG 750-II, VeOS основан на методе эмиссионного автоматического спектрального анализа с возбуждением пробы с помощью искры. Анализаторы состоят из источника возбуждения спектра, полихроматора и автоматизированной системы управления и регистрации на базе IBM – совместимого компьютера. Искровой источник возбуждения спектра создает униполярную искру с формой волны, задаваемой программой. Обдувка электрода аргоном повышает точность и воспроизводимость результатов измерений. Автоматическая система анализаторов OBLF моделей GS 1000, GS 1000-II, QSN 750, QSN 750-II, QSG 750, QSG 750-II, VeOS базируется на полихроматоре по схеме Пашена – Рунге с вогнутой дифракционной решеткой, работающей в первом или во втором порядке дифракции. Ширина выходных щелей от 10 мкм до 75 мкм. Может быть установлено до 64 выходных щелей. Регистрация спектра осуществляется с помощью набора фотоумножителей, оптимизированных на определенные участки спектра. Система имеет вогнутую дифракционную решетку, у которой кривизна и количество штрихов оптимизируется в соответствии с аналитической задачей. Входная щель автоматической системы управляется шаговым двигателем по программе. В моделях GS 1000-II, QSN 750-II, QSG 750-II римская цифра указывает на увеличение скорости обработки данных за счет изменения электрической схемы интегратора в вакуумной камере. Автоматическая система анализаторов VeOS базируется на полихроматоре по схеме Пашена – Рунге с вогнутой дифракционной решеткой, на которую световой поток со штатива передается на полупроводниковые сенсоры, с особой формой секторов. Совокупность пикселей в матрице размером 10 мкм х 1000мкм со специальной антибликовой обработкой увеличивает светочувствительность сенсоров. Термостабилизация автоматической камеры уменьшает уровень фона. Конструктивно анализаторы OBLF моделей GS 1000, GS 1000-II, QSN 750, QSN 750-II, QSG 750, QSG 750-II, VeOS выполнены в виде напольного прибора с встроенным компьютером. Управление процессом измерения и обработки выходной информации осуществляется от IBM – совместимого компьютера ( модель не ниже PENTIUM0 ) с помощью специального программного комплекса. По программе осуществляется настройка прибора, построение градуировочных зависимостей на основе анализа стандартных образцов, оптимизация его параметров, управление его работой, обработка выходной информации, запоминание и печать результатов измерения. Во всех частях программы, в которых требуется какой-то ввод, в память заложено необходимое установочное значение, принимаемое программой по умолчанию и соответствующее стандартным методикам. Поэтому, в большинстве случаев для проведения измерения достаточно в методе измерения задать лишь необходимые для определения элементы. Анализаторы оснащены самоочищающимся искровым столиком и встроенной системой внутренней стабилизации, что обеспечивает высокую стабильность результатов независимо от места установки анализатора. Измерение, обработка, хранение и представление информации, а так же настройка и оптимизация анализатора осуществляется с помощью программного обеспечения с персонального компьютера. Анализатор автоматический OBLF модель QSN750, QSG750, QSN750-II, QSG750-II Анализатор автоматический OBLF модель GS1000, GS1000-II Анализатор автоматический OBLF модельVeOS | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
Программное обеспечение | Программное обеспечение внешнее и идентифицируется при включении анализатора путем вывода на экран номера версии.
Идентификационные данные программного обеспечения приведены в таблице 1.
Таблица 1
| |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
Метрологические и технические характеристики |
| |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
Комплектность | Измерительный прибор. 1 экз. Комплект эксплуатационных документов. 1 экз. 3. Методика поверки. МП РТ 620-2011 1 экз. | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
Поверка | осуществляется по методике поверки МП РТ 620 – 2011, утвержденной ГЦИ СИ ФГУ «Ростест – Москва» « 12 » мая 2011г. Средства поверки: Стандартные образцы состава стали ( ГСО 4165 – 91 П; 2489 – 91 П ... 2497 – 91 П ) или другие ГСО в зависимости от того для какой матрицы (железо, алюминий, медь, титан и др.) предназначен анализатор. | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
Нормативные и технические документы | , устанавливающие требования к анализаторам OBLF моделей GS 1000, GS 1000-II, QSN 750, QSN 750-II, QSG 750, QSG 750-II, VeOS 1. МИ 2639-01 ГСИ. Государственная поверочная схема для средств измерений массовой доли компонентов в веществах и материалах 2. ГОСТ 18895–97 Сталь. Метод фотоэлектрического спектрального анализа. 3.Техническая документация фирмы OBLF Gesellschaft fur Elektronik und Feinwerktechnik mbH. Рекомендации по областям применения в сфере государственного регулирования обеспечения единства измерений - при осуществлении деятельности в области охраны окружающей среды осуществлении деятельности по обеспечению безопасности при чрезвычайных ситуациях; - при выполнении работ по обеспечению безопасных условий и охраны труда; - при осуществлении производственного контроля за соблюдением установленных законодательством Российской Федерации требований промышленной безопасности к эксплуатации опасного производственного объекта; - при осуществлении деятельности в области обороны и безопасности государства; - при осуществлении геодезической и картографической деятельности; - при выполнении работ по оценке соответствия промышленной продукции и продукции других видов, а также иных объектов установленным законодательством Российской Федерации обязательным требованиям. | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
Заявитель | Фирма " OBLF Gesellschaft fur Elektronik und Feinwerktechnik mbH ", Германия Salinger Feld 44, 58454 Witten , e-mail: info@oblf.de. | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
Испытательный центр | ный центр ГЦИ СИ Федерального государственного учреждения «Российский центр испытаний и сертификации – Москва» (ФГУ «Ростест-Москва»), 117418, Москва, Нахимовский пр., 31, тел.: 129-19-11 факс: 124-99-96 email: info@rostest.ru, аттестат аккредитации № 30010-10, действительный до «01» апреля 2015 г. |