Комплекс поляризационной сканирующей микроскопии Нет данных

Описание

Комплекс поляризационной сканирующей микроскопии Нет данных — техническое средство с номером в госреестре 48984-12 и сроком свидетельства (заводским номером) зав.№ 001. Имеет обозначение типа СИ: Нет данных.
Произведен предприятием: Физический факультет ГУНУ "МГУ им.М.В.Ломоносова", г.Москва.

Требуется ли периодическая поверка прибора?

Наличие периодической поверки: Да. Периодичность проведения поверки установлена изготовителем средства измерения и составляет: 1 год
Узнать о ее сроках можно также в техническом паспорте, который прилагается к данному прибору.

Допускается ли поверка партии?

Допущение поверки партии приборов: Нет.

Методика поверки:

Комплекс поляризационной сканирующей микроскопии Нет данных.

С методикой поверки прибора вы можете ознакомиться по ссылке: Файл не найден, для получения обратитесь в архив ФГБУ «ВНИИМС»
Документ содержит последовательность действий, реализация которых позволит подтвердить соответствие прибора метрологическим требованиям, принятым при утверждении типа средства измерений.

Описание типа:

Комплекс поляризационной сканирующей микроскопии Нет данных.

С более детальным описанием прибора можно ознакомиться по ссылке: Описание прибора: Скачать. Документ содержит технические, метрологические характеристики, данные о погрешности измерения и другую полезную информацию.

Изображение
Добавить к заказу
Номер в госреестре
48984-12
НаименованиеКомплекс поляризационной сканирующей микроскопии
Обозначение типаНет данных
ПроизводительФизический факультет ГУНУ "МГУ им.М.В.Ломоносова", г.Москва
Описание типаСкачать
Методика поверкиФайл не найден, для получения обратитесь в архив ФГБУ «ВНИИМС»
Межповерочный интервал (МПИ)1 год
Допускается поверка партииНет
Наличие периодической поверкиДа
Сведения о типеЗаводской номер
Срок свидетельства или заводской номерзав.№ 001
НазначениеКомплекс поляризационной сканирующей микроскопии (далее по тексту - комплекс) предназначен для измерения угла вращения плоскости поляризации монохроматического излучения при его прохождении через оптически-активные вещества и структуры на расстояниях, соответствующих областям ближнего (много меньше половины длины волны) и дальнего (больше длины волны) полей.
ОписаниеПринцип действия комплекса заключается в компенсации поворота плоскости поляризации путем ручной установки поляризационной призмы в угловое положение, соответствующее минимуму сигнала на фотоэлектронном умножителе (ФЭУ). Излучение от источника (лазер с длиной волны 532 нм) проходит фазовую пластину толщиной в половину длины волны, систему зеркал и попадает на образец, после прохождения, через который собирается коллектором субволновых размеров. Коллектором служит зонд ближнепольного микроскопа апертурного типа. Локально собранное апертурным зондом электроманитное поле оптической частоты с помощью оптического световода, являющегося продолжением апертурного зонда, направляется в систему вывода излучения. Система вывода излучения на основе микрообъектива служит для формирования параллельного светового пучки. После формирования параллельного светового пучка последний проходит через поляризационную призму и попадает на ФЭУ, сигнал c которого поступает в электронный контроллер комплекса, где и регистрируется. Комплекс конструктивно выполнен в виде стационарного прибора, состоящего из установленных на оптическом столе оптико-механической измерительной головки, лазера, ФЭУ, поляризационной оптики и оптико-механических вспомогательных узлов. Электронный контроллер располагается отдельно и соединяется с оптико-механической измерительной головкой и ФЭУ соединительными кабелями. Управление прибором осуществляется с помощью специализированного программного обеспечения, установленного на персональный компьютер, который связан с электронным контроллером специальным кабелем, подключаемым к плате сопряжения, устанавливаемой в слот PCI персонального компьютера. аб Рисунок 1 – Общий вид комплекса поляризационной сканирующей микроскопии (а) и электронного контроллера комплекса (б). Рисунок 2 – Место нанесения маркировки комплекса поляризационной сканирующей микроскопии (1) и место пломбирования (2).
Программное обеспечение (ПО) Программное обеспечение предназначено для управления и контроля за всеми параметрами комплекса, кроме угла поворота анализатора. Программное обеспечение автономное. Оно состоит из управляющей программы Nova.exe и служебных файлов, располагающихся в системной папке C:Program Files (x86)NT-MDTNova. Программное обеспечение может работать под управлением операционных систем Windows 95/98/Me/2000/XP. Идентификационные данные программного обеспечения представлены в таблице 1. Таблица 1
Наименование ПО Идентификационное наименование ПО Номер версии (идентификационный номер) ПО Цифровой идентификатор ПО (контрольная сумма исполняемого кода)Алгоритм вычисления цифрового идентификатора ПО
NovaNova1.0.26 RC12F0D5493(расчет по исполняемому файлу Nova.exe)CRC32
Обмен данными между измерительными блоками и персональным компьютером осуществляется через интерфейс PCI платы сопряжения. Плата сопряжения устанавливается в персональный компьютер и соединяется с электронным контроллером специальным кабелем. Искажение данных при передаче через интерфейс связи исключается параметрами протокола: -при передаче используется протокол квитирования, обеспечивающий надежность обмена данными за счет обязательного получения инициатором передачи информации об отработке транзакции целевым устройством; -надежность (достоверность) обеспечивается применением контроля паритета за счет защиты битом паритета линий передачи адреса/данных и линий передачи команд и в фазе передачи адреса, и в фазе передачи данных; при этом количество единичных бит этих линий, включая линию паритета, должно быть четным; действительное значение бита паритета появляется на шине с задержкой в один такт относительно линий передачи адреса/данных и линий команд; при обнаружении ошибки целевым устройством со сдвигом еще на один такт вырабатывается сигнал ошибки; в подсчете паритета при передаче данных учитываются все байты, включая и недействительные; -целостность данных в отдельных пакетах дополнительно проверяется с помощью контрольной суммы, вычисляемой по алгоритму CRC32. Метрологически значимая часть ПО скрыта от пользователя и доступна только при сервисном обслуживании. Метрологически значимая часть ПО размещается в энергонезависимой памяти персонального компьютера, запись которой осуществляется в процессе производства. Доступ к метрологически значимой части ПО исключён посредством ограничения прав учетной записи пользователя. Защита программного обеспечения от непреднамеренных и преднамеренных изменений соответствует уровню «С» по МИ 3286-2010.
Метрологические и технические характеристикиМетрологические и технические характеристики комплекса поляризационной сканирующей микроскопии представлены в таблице 2 Таблица 2
Наименование характеристики прибораЗначение
Рабочая длина волны, нм532
Диапазон показаний угла вращения плоскости поляризации при длине волны 532 нм, градусы( 90
Диапазон измерений угла вращения плоскости поляризации, приведенного к длине волны 546,1 нм, градусы( 40
Пределы допускаемой относительной погрешности для углов вращения плоскости поляризации, приведенных к длине волны 546,1 нм, в диапазоне от - 40° до + 40°, %, не более15
Электропитание от сети переменного тока – напряжение питания, В – частота, Гц180 ÷ 240 50 / 60
Потребляемая мощность, В(А, не более500
Габаритные размеры, мм, не более1500 ×1450 ×1050
Масса, кг, не более150
Время измерения направление плоскости поляризации переменного электромагнитного поля оптической частоты, мин, не более30
Срок службы, лет, не менее5
Условия эксплуатации – температура окружающей среды, ºС – относительная влажность воздуха, %, не более – атмосферное давление, кПа10 ÷ 40 80 (при 20º С) от 84 до 106
КомплектностьКомплектность комплекса поляризационной сканирующей микроскопии представлены в таблице 3 Таблица 3
НаименованиеКол-во, шт.
Стол оптический1
Контроллер электронный1
Оптико-механическая измерительная головка с видеосистемой1
Комплект соединительных кабелей1
Лазер1
Блок питания лазера1
Фотоэлектронный умножитель1
Комплект поляризационной оптики1
Комплект оптических деталей1
Система вывода излучения из одномодового оптического волокна с микрообъективом1
Прецизионный скалыватель оптических волокон1
Стриппер для удаления буферного слоя оптического волокна диаметром 125 микрон1
Телевизионный монитор1
Блок питания телевизионного монитора1
Видеокабель S-Video2
Силовой кабель переменного тока1
Персональный компьютер с монитором, клавиатурой и мышью1
Плата сопряжения контроллер-компьютер1
Компакт-диск с программным обеспечением1
Руководство пользователя программным обеспечением1
Руководство по эксплуатации1
Методика поверки МП 51.Д4-111
Руководство по эксплуатации электронного контроллера и оптико-механической измерительной головки1
Комплект упаковочных материалов1
Поверкаосуществляется по документу «Комплекс поляризационной сканирующей микроскопии. Методика поверки МП 51.Д4-11» утвержденному ГЦИ СИ ФГУП «ВНИИОФИ» 14 октября 2011 г. Основные средства поверки: 1 Меры угла вращения плоскости поляризации (пластинки поляриметрические № 04679, 02879, 873018, 873078, 873082, входящие в состав Государственного первичного эталона единицы угла вращения плоскости поляризации ГЭТ 50-2008.
Нормативные и технические документы, устанавливающие требования к комплексу поляризационной сканирующей микроскопии Техническая документация Государственного учебно-научного учреждения Физический факультет Московского государственного университета имени М.В.Ломоносова «Комплекс поляризационной сканирующей микроскопии» Рекомендации по областям применения в сфере государственного регулирования обеспечения единства измерений Осуществлении деятельности при поверке мер угла вращения плоскости поляризации монохроматического излучения.
ЗаявительГосударственное учебно-научное учреждение Физический факультет Московского государственного университета имени М.В. Ломоносова (Физический факультет МГУ) Адрес: 119991, Москва, ГСП-1, ул. Ленинские Горы, д. 1, стр. 2 Телефон: (495) 939-45-44; факс: (495) 939-22-10. E-mail: fedyanin@nanolab.phys.msu.ru , www.nanolab.phys.msu.ru .
Испытательный центрГосударственный центр испытаний средств измерений федерального государственного унитарного предприятия «Всероссийский научно-исследовательский институт оптико-физических измерений» (ГЦИ СИ ФГУП «ВНИИОФИ»), аттестат аккредитации государственного центра испытаний (испытательной, измерительной лаборатории) средств измерений № 30003-08 от 30.12.2008 г. Адрес: 119361, Москва, ул. Озерная, 46. Телефон: (495) 437-56-33; факс: (495) 437-31-47 E-mail: vniiofi@vniiofi.ru