Микроскоп электронный просвечивающий Tecnai G2 F20 S-TWIN TMP

Описание

Микроскоп электронный просвечивающий Tecnai G2 F20 S-TWIN TMP — техническое средство с номером в госреестре 60084-15 и сроком свидетельства (заводским номером) зав.№ 9922720/D2318. Имеет обозначение типа СИ: Tecnai G2 F20 S-TWIN TMP.
Произведен предприятием: Фирма "FEI Europe B.V., P.O.", Нидерланды.

Требуется ли периодическая поверка прибора?

Наличие периодической поверки: Да. Периодичность проведения поверки установлена изготовителем средства измерения и составляет: 1 год
Узнать о ее сроках можно также в техническом паспорте, который прилагается к данному прибору.

Допускается ли поверка партии?

Допущение поверки партии приборов: Нет.

Методика поверки:

Микроскоп электронный просвечивающий Tecnai G2 F20 S-TWIN TMP.

С методикой поверки прибора вы можете ознакомиться по ссылке: Скачать
Документ содержит последовательность действий, реализация которых позволит подтвердить соответствие прибора метрологическим требованиям, принятым при утверждении типа средства измерений.

Описание типа:

Микроскоп электронный просвечивающий Tecnai G2 F20 S-TWIN TMP.

С более детальным описанием прибора можно ознакомиться по ссылке: Описание прибора: Скачать. Документ содержит технические, метрологические характеристики, данные о погрешности измерения и другую полезную информацию.

Изображение
Добавить к заказу
Продать СИ
Номер в госреестре
60084-15
НаименованиеМикроскоп электронный просвечивающий
Обозначение типаTecnai G2 F20 S-TWIN TMP
ПроизводительФирма "FEI Europe B.V., P.O.", Нидерланды
Описание типаСкачать
Методика поверкиСкачать
Межповерочный интервал (МПИ)1 год
Допускается поверка партииНет
Наличие периодической поверкиДа
Сведения о типеЗаводской номер
Срок свидетельства или заводской номерзав.№ 9922720/D2318
НазначениеМикроскоп электронный просвечивающий Tecnai G2 F20 S-TWIN TMP (далее – микроскоп) предназначен для измерений линейных размеров объектов.
ОписаниеПринцип действия микроскопа основан на том, что электроны, испускаемые катодом, ускоряются электронной пушкой и сводятся в пучок, который дополнительно фокусируется конденсорными линзами и проецируется на объект. При прохождении через объект параллельного пучка быстрых электронов происходит их рассеяние на неоднородностях структуры или состава исследуемого объекта. В плоскости изображения объективной линзы, расположенной непосредственно за образцом, формируется действительное изображение объекта, а в ее фокальной плоскости формируется дифракционная картина, каждая точка которой соответствует определенному углу выхода электронов из образца. Микроскоп представляет собой стационарную автоматизированную многофункциональную измерительную систему, в состав которой входят: электронно-оптическая колонна; светло-темнопольный детектор электронов; широкоугловой темнопольный детектор; рабочий стол с блоками управления электроники, который вместе с электронно-оптической колонной образует главную консоль прибора; вакуумная система с отдельно расположенным форвакуумным механическим насосом; стабилизированный источник высокого напряжения; компрессор сжатого воздуха для управления пневмоклапанами; система замкнутого водяного охлаждения. Основной частью микроскопа является электронно-оптическая колона. В состав колоны входят электронная пушка и три блока электронных линз (осветительный, формирующий изображение и проекционный). Первый блок составлен из двух линз. Основным элементом второго блока является объективная линза, в которую путем шлюзования вводится объектодержатель с объектом. Блок проекционных линз обеспечивает требуемое увеличение изображений. На нижней части колонны установлена камера с флуоресцентным экраном, в которой выполнены окна для наблюдения изображения. Над центральным окном установлен оптический бинокулярный микроскоп, который обеспечивает просмотр фрагментов изображения на экране и фокусировку. Управление работой микроскопа осуществляется с помощью рабочей станции на базе специализированного компьютера. При работе микроскопа обеспечиваются безопасные условия труда оператора. При максимальных значениях ускоряющего напряжения и тока зонда мощность эквивалентной дозы рентгеновского излучения в любой доступной точке на расстоянии 10 см от поверхности колонны и камеры объектов микроскопа не превышает 1 мкЗв/ч. Внешний вид микроскопа приведен на рисунке 1. Рисунок 1 – Общий вид микроскопа Tecnai G2 F20 S-TWIN TMP.
Программное обеспечениеУправление микроскопом осуществляют с помощью встроенного контроллера и внешней ПЭВМ с использованием специализированного программного обеспечения (ПО). Уровень защиты от непреднамеренных и преднамеренных изменений – «высокий» в соответствии с Р 50.2.077-2014. Идентификационные данные программного обеспечения представлены в таблице 1. Таблица 1.
Наименование ПОИдентификационное наименование ПОНомер версии (идентификационный номер) ПОЦифровой идентификатор ПО (контрольная сумма исполняемого кода)Алгоритм вычисления идентификатора ПО
Пакет управляющих программ «ТЕМ User Interface»peoui.exe4.6.2, build 9496A4DCDA36ЕC25390C2526B1018A0F653DCFC77B24D5F2Е52A82F6D185Е3D71193По ГОСТ Р 34.11-94
Метрологические и технические характеристикиОсновные метрологические и технические характеристики микроскопов приведены в таблице 2. Таблица 2.
Наименование характеристикиЗначение
Диапазон измерений линейных размеров, нмот 3 до 50000
Пределы допускаемой относительной погрешности измерений линейных размеров, %±10
Диапазон регулировки увеличений, кратот 25 до 1030000
Диапазон ускоряющих напряжений, кВот 20 до 200
Напряжение питания от сети переменного тока частотой (50±1) Гц, Вот 198 до 233
Потребляемая мощность, кВт, не более 10
Габаритные размеры (длина × ширина × высота), мм1950 × 1200 × 2940
Масса, кг, не более2200
Рабочие условия эксплуатации: - температура окружающей среды, (С - относительная влажность воздуха, %, не более - атмосферное давление, кПа20 ( 3 80 от 84 до 107
КомплектностьВ комплект поставки входят: микроскоп электронный просвечивающий Tecnai G2 F20 S-TWIN TMP, комплект ЗИП, расходные материалы, техническая документация фирмы-изготовителя.
Поверкаосуществляется по документу МП 60084-15 «Микроскоп электронный просвечивающий Tecnai G2 F20 S-TWIN TMP фирмы «FEI Europe B.V., P.O.», Нидерланды. Методика поверки», утвержденному ГЦИ СИ ОАО «НИЦПВ» в феврале 2015 г. Средства поверки: СО параметров шаговой структуры в тонком слое монокристаллического кремния (ГСО 10030-2011).
Нормативные и технические документы, устанавливающие требования к микроскопу электронному просвечивающему Tecnai G2 F20 S-TWIN TMP Микроскоп электронный просвечивающий Tecnai G2 F20 S-TWIN TMP. Руководство по эксплуатации. Рекомендации по областям применения в сфере государственного регулирования обеспечения единства измерений Отсутствуют.
ЗаявительФирма «FEI Europe B.V., P.O.», Нидерланды. Адрес фирмы-изготовителя: Achtseneg Noord, 5, Eindhoven, The Netherlands.
Испытательный центрГЦИ СИ ОАО «НИЦПВ». Адрес: 119421, г. Москва, ул. Новаторов 40, корп. 1. Тел./Факс: (495) 935-97-77. E-mail: fgupnicpv@mail.ru Аттестат аккредитации ГЦИ СИ ОАО «НИЦПВ» по проведению испытаний средств измерений в целях утверждения типа № 30036-10 от 10.06.2010 г.