Описание
Спектрометры-толщиномеры рентгенофлуоресцентные FISCHERSCOPE X-RAY мод. XUL220, XULM240, XAN 250, XDL 210, XDL 220, XDL 230, XDL 240, XDLM 237, XDV-µ — техническое средство с номером в госреестре 74835-19 и сроком свидетельства (заводским номером) 23.04.2024. Имеет обозначение типа СИ: FISCHERSCOPE X-RAY мод. XUL220, XULM240, XAN 250, XDL 210, XDL 220, XDL 230, XDL 240, XDLM 237, XDV-µ. Произведен предприятием: Фирма "Helmut Fischer GmbH", Германия.
Требуется ли периодическая поверка прибора?
Наличие периодической поверки: Да. Периодичность проведения поверки установлена изготовителем средства измерения и составляет: 1 год Узнать о ее сроках можно также в техническом паспорте, который прилагается к данному прибору.
Допускается ли поверка партии?
Допущение поверки партии приборов: Нет.
Методика поверки:
Спектрометры-толщиномеры рентгенофлуоресцентные FISCHERSCOPE X-RAY мод. XUL220, XULM240, XAN 250, XDL 210, XDL 220, XDL 230, XDL 240, XDLM 237, XDV-µ.С методикой поверки прибора вы можете ознакомиться по ссылке: Скачать Документ содержит последовательность действий, реализация которых позволит подтвердить соответствие прибора метрологическим требованиям, принятым при утверждении типа средства измерений.
Описание типа:
Спектрометры-толщиномеры рентгенофлуоресцентные FISCHERSCOPE X-RAY мод. XUL220, XULM240, XAN 250, XDL 210, XDL 220, XDL 230, XDL 240, XDLM 237, XDV-µ.С более детальным описанием прибора можно ознакомиться по ссылке: Описание прибора: Скачать. Документ содержит технические, метрологические характеристики, данные о погрешности измерения и другую полезную информацию.
Изображение | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
Номер в госреестре | 74835-19 | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
Наименование | Спектрометры-толщиномеры рентгенофлуоресцентные | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
Обозначение типа | FISCHERSCOPE X-RAY мод. XUL220, XULM240, XAN 250, XDL 210, XDL 220, XDL 230, XDL 240, XDLM 237, XDV-µ | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
Производитель | Фирма "Helmut Fischer GmbH", Германия | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
Описание типа | Скачать | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
Методика поверки | Скачать | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
Межповерочный интервал (МПИ) | 1 год | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
Допускается поверка партии | Нет | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
Наличие периодической поверки | Да | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
Сведения о типе | Срок свидетельства | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
Срок свидетельства или заводской номер | 23.04.2024 | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
Назначение | Спектрометры-толщиномеры рентгенофлуоресцентные FISCHERSCOPE X-RAY моделей XUL220, XULM240, XAN 250, XDL 210, XDL 220, XDL 230, XDL 240, XDLM 237, XDV-µ (далее – спектрометры-толщиномеры) предназначены для измерений толщины покрытий, а также элементного состава и массовой доли элементов в покрытиях и объемных образцах в соответствии с аттестованными методиками (методами) измерений (при использовании в сфере государственного регулирования обеспечения единства измерений). | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
Описание | Принцип действия спектрометров-толщиномеров основан на энерогодисперсионном рентгенофлуоресцентном методе анализа. Химические элементы, присутствующие в анализируемом образце, излучают характеристические спектральные линии под действием высокоэнергетического излучения рентгеновской трубки. Вторичное рентгеновское излучение классифицируется по энергии излученных квантов с последующей регистрацией энергетического спектра. Специальное программное обеспечение позволяет рассчитать толщину и элементный состав покрытия. Конструктивно спектрометры-толщиномеры выполнены в виде настольных приборов с отдельно устанавливаемым компьютером и включают в себя следующие основные составные части: - корпус, служащий для размещения агрегатов спектрометров-толщиномеров, стабилизации аналитических условий и для защиты пользователя от излучения; - микрофокусная рентгеновская трубка с вольфрамовым анодом и бериллиевым окном для генерирования первичного излучения; - источник питания для обеспечения всех частей спектрометров-толщиномеров электроэнергией с определенными характеристиками; - видеокамера для визуального наведения измерителя на определяемую область; - детектор для регистрации вторичного спектра, излучаемого образцом; - измерительная камера с платформой для размещения исследуемого образца; - диафрагма (коллиматор) для ограничения пучка первичного рентгеновского излучения; - первичные фильтры для оптимизации спектрального состава первичного рентгеновского излучения в расчете на конкретный образец и блокировки нежелательных компонентов спектра флуоресценции. Спектрометры-толщиномеры выпускаются в следующих моделях XUL220, XULM240, XAN 250, XDL 210, XDL 220, XDL 230, XDL 240, XDLM 237, XDV-µ, которые отличаются конструкцией измерительной платформы, направлением первичного рентгеновского излучения, типом детектора. У моделей XUL220, XULM240, XDL 210, XDL 220, XDL 230, XDL 240, XDLM 237, XDV-µ первичное рентгеновское излучение поступает на исследуемый образец сверху, у моделей XUL220, XULM240, XAN 250 – снизу. Модели XAN 250, XDL 210, XDL 220, XDL 230, XULM240 имеют измерительную платформу с ручным управлением; модели XDL 240 и XDLM 237 – автоматизированную измерительную платформу. Модель XDV-µ оснащена программируемым измерительным столиком с удлиняемым держателем для образцов. Модели спектрометров-толщиномеров XUL220, XULM240, XDL 210, XDL 220, XDL 230, XDL 240, XDLM 237 оснащены пропорциональным счетчиком, модели XAN 250, XDV-µ - кремниевым дрейфовым детектором, который обладает более высоким разрешением, что позволяет увеличить количество анализируемых прибором элементов. Модель XDV-µ также оснащена улучшенной поликапиллярной рентгеновской оптикой, позволяющей фокусировать рентгеновские лучи на сверхмалых исследуемых поверхностях. Поликапиллярная оптика используется вместо магазина коллиматоров и позволяет регулировать площадь измерения, доводя ее до диаметра 20 мкм. Общий вид спектрометров-толщиномеров с обозначением места нанесения знака поверки представлен на рисунках 1 - 6. Пломбирование не предусмотрено. Рисунок 1 – Общий вид Спектрометров-толщиномеров рентгенофлуоресцентных FISCHERSCOPE X-RAY модели XULM240 Рисунок 2 – Общий вид Спектрометров-толщиномеров рентгенофлуоресцентных FISCHERSCOPE X-RAY модели XUL220 Рисунок 3 – Общий вид Спектрометров-толщиномеров рентгенофлуоресцентных FISCHERSCOPE X-RAY модели XDLM 237 Рисунок 4 – Общий вид Спектрометров-толщиномеров рентгенофлуоресцентных FISCHERSCOPE X-RAY модели XAN 250 Рисунок 5 – Общий вид Спектрометров-толщиномеров рентгенофлуоресцентных FISCHERSCOPE X-RAY моделей XDL 210, XDL 220, XDL 230, XDL 240 Рисунок 6 – Общий вид Спектрометров-толщиномеров рентгенофлуоресцентных FISCHERSCOPE X-RAY модели XDV-µ | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
Программное обеспечение | Управление спектрометрами-толщиномерами и обработка результатов измерений проводится с помощью специального программного обеспечения WinFTM, установленного на персональный компьютер. Программное обеспечение (ПО) также служит для настройки спектрометров-толщиномеров, проведения измерений, включая визуальный анализ экспериментальных данных, анализа и обработки полученных данных. Измеренные значения сохраняются в памяти персонального компьютера и отображаются на мониторе.
С помощью программного обеспечения WinFTM можно создавать шаблоны для печати протоколов измерений и экспортировать результаты измерений в другие приложения.
ПО состоит из двух функциональных частей:
- часть, описывающая образец, используется для выполнения измерений на образцах;
- часть, описывающая набор калибровочных эталонов, используется для калибровки и периодического контроля спектрометров-толщиномеров.
Программное обеспечение размещается в энергонезависимой памяти персонального компьютера. Функциональность различных версий и дополнительных модулей программы WinFTM разблокируется разными аппаратными ключами, или FISIM (Fischer Software Identification Module). FISIM — это заглушка, вставляемая в порт USB компьютера перед запуском программы WinFTM.
Защита программного обеспечения от непреднамеренных и преднамеренных изменений соответствует уровню «высокий» согласно Р 50.2.077-2014.
Программное обеспечение (ПО) имеет следующие идентификационные данные.
Таблица 1 - Идентификационные данные ПО
| ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
Метрологические и технические характеристики | Таблица 2 - Метрологические характеристики
| ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
Комплектность | Таблица 4 – Комплектность средства измерений
| ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
Поверка | осуществляется по документу МП 086.Д4-18 «ГСИ. Спектрометры-толщиномеры рентгенофлуоресцентные FISCHERSCOPE X-RAY моделей XUL220, XULM240, XAN 250, XDL 210, XDL 220, XDL 230, XDL 240, XDLM 237, XDV-µ. Методика поверки», утвержденному ФГУП «ВНИИОФИ» 29 октября 2018 г. Основные средства поверки: - стандартные образцы поверхностной плотности и толщины никелевого покрытия на дюралюминии (набор СО УНИИМ ППТ-1-Н) ГСО 11092-2018/ГСО 11105-2018 (поверхностная плотность покрытия от 4,0 до 1000,0 г/м2, толщина покрытия от 0,50 до 112,4 мкм, относительная погрешности аттестованного значения ±2,5 % при доверительнойвероятности 0,95); - стандартные образцы состава, поверхностной плотности, толщины олово-висмутового покрытия на меди (СО УНИИМ ППТМ-ОВ/М-1, СО УНИИМ ППТМ-ОВ/М-2, СО УНИИМ ППТМ-ОВ/М-3, СО УНИИМ ППТМ-ОВ/М-4) ГСО 11156-2018/ГСО11159-2018 (толщина покрытия от 2,0 до 20,0 мкм, относительная погрешности аттестованного значения ±2,5 % при доверительной вероятности 0,95); - стандартные образцы состава золота лигатурного ГСО 8756-2006/ГСО 8758-2006/ГСО 8760-2006/ГСО 8763-2006. Допускается применение аналогичных средств поверки, обеспечивающих определение метрологических характеристик поверяемых СИ с требуемой точностью. Знак поверки наносится на корпус спектрометров-толщиномеров (место нанесения указано на рисунках 1 - 6). | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
Нормативные и технические документы | , устанавливающие требования к спектрометрам-толщиномерам рентгенофлуоресцентным FISCHERSCOPE X-RAY моделей XUL220, XULM240, XAN 250, XDL 210, XDL 220, XDL 230, XDL 240, XDLM 237, XDV-µ ГОСТ Р 8.735.0-2011 ГСИ. Государственная поверочная схема для средств измерений содержания компонентов в жидких и твердых веществах и материалах. Основные положения Р 50.2.006-2001 ГСИ. Государственная поверочная схема для средств измерений толщины покрытий в диапазоне от 1 до 20000 мкм Приказ Росстандарта № 2089 от 28.09.2018 г. Об утверждении государственной поверочной схемы для средств измерений поверхностной плотности и массовой доли элементов в покрытиях Техническая документация «HELMUT FISCHER GMBH», Германия | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
Заявитель | «HELMUT FISCHER GMBH», Германия Адрес: Industriestraße 21, D-71069 Sindelfingen-Maichingen, Germany Телефон: +49 (0 70 31) 303 0 Факс: +49 (0 70 31) 303 710 Web-сайт: www.helmut-fischer.de E-mail: mailhelmut@fischer.de | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
Испытательный центр | Федеральное государственное унитарное предприятие «Всероссийский научно-исследовательский институт оптико-физических измерений» (ФГУП «ВНИИОФИ») Адрес: 119361, г. Москва, ул. Озерная, д. 46 Телефон: +7 (495) 437-56-33 Факс: +7 (495) 437-31-47 E-mail: vniiofi@vniiofi.ru Аттестат аккредитации ФГУП «ВНИИОФИ» по проведению испытаний средств измерений в целях утверждения типа № 30003-2014 от 23.06.2014 г. |