Системы контроля толщины сухой пленки SpecMetrix DFT-QA lab

Описание

Системы контроля толщины сухой пленки SpecMetrix DFT-QA lab — техническое средство с номером в госреестре 88999-23 и сроком свидетельства (заводским номером) 15.05.2028. Имеет обозначение типа СИ: SpecMetrix DFT-QA lab.
Произведен предприятием: "SENSORY ANALYTICS LLC", США.

Требуется ли периодическая поверка прибора?

Наличие периодической поверки: Да. Периодичность проведения поверки установлена изготовителем средства измерения и составляет: 1 год
Узнать о ее сроках можно также в техническом паспорте, который прилагается к данному прибору.

Допускается ли поверка партии?

Допущение поверки партии приборов: Нет.

Методика поверки:

Системы контроля толщины сухой пленки SpecMetrix DFT-QA lab.

С методикой поверки прибора вы можете ознакомиться по ссылке: Скачать
Документ содержит последовательность действий, реализация которых позволит подтвердить соответствие прибора метрологическим требованиям, принятым при утверждении типа средства измерений.

Описание типа:

Системы контроля толщины сухой пленки SpecMetrix DFT-QA lab.

С более детальным описанием прибора можно ознакомиться по ссылке: Описание прибора: Скачать. Документ содержит технические, метрологические характеристики, данные о погрешности измерения и другую полезную информацию.

Изображение
Добавить к заказу
Номер в госреестре
88999-23
НаименованиеСистемы контроля толщины сухой пленки
Обозначение типаSpecMetrix DFT-QA lab
Производитель"SENSORY ANALYTICS LLC", США
Описание типаСкачать
Методика поверкиСкачать
Межповерочный интервал (МПИ)1 год
Допускается поверка партииНет
Наличие периодической поверкиДа
Сведения о типеСрок свидетельства
Срок свидетельства или заводской номер15.05.2028
НазначениеСистемы контроля толщины сухой пленки SpecMetrix DFT-QA lab (далее – системы) предназначены для измерений толщины полимерной пленки и толщины полимерных покрытий на подложке или без нее бесконтактным способом.
ОписаниеПринцип действия систем основан на оптическом методе неразрушающего контроля, базирующимся на исследовании характера взаимодействия оптического излучения с контролируемым объектом. Система излучает свет в виде плоской волны. Плоская волна падает перпендикулярно на контролируемый объект, в результате чего образуются отраженные волны, с определенной разностью хода. Эти волны могут интерферировать при соблюдении условий временной когерентности. Максимум интерференции приходится на одну или несколько длин волн. Результат измерений толщины пленки зависит от разности хода волн и показателя преломления в материале, в которую должен укладываться интерференционный максимум. Лампа внутри модуля рабочего системного излучает свет, далее этот свет распространяется по оптоволоконному кабелю (зонду). Сфокусированный линзой на конце зонда, луч от лампы падает на пленку, затем отражается от неё, попадает в приемные волокна зонда. Далее по оптоволоконному кабелю свет распространяется и принимается датчиком внутри модуля рабочего системного, после чего обрабатывается при помощи программного обеспечения. Системы состоят из модуля рабочего системного, зонда, усиленного зонда, регулируемой линзы для настройки, подставки для тонкой пленки, кронштейна для крепления усиленного зонда. Модуль рабочий системный может включать внутри себя датчики видов VIS, NIR и EXR. Нанесение знака поверки на средство измерений не предусмотрено. Заводской номер в виде цифро-буквенного обозначения, состоящего из арабских цифр и букв латинского алфавита, наносится методом наклеивания этикетки на боковую панель модуля рабочего системного. Общий вид систем представлен на рисунке 1. / Рисунок 1 – Общий вид систем контроля толщины сухой пленки SpecMetrix DFT-QA lab Пломбирование систем не предусмотрено. Схема места нанесения заводского номера представлена на рисунке 2. / Рисунок 2 – Обозначение места нанесения заводского номера
Программное обеспечениеПрограммное обеспечение (ПО) предназначено для регистрации измерений толщины пленки и толщины покрытий на подложке или без нее бесконтактным способом с последующим сохранением результатов измерений для их обработки. Метрологически значимое ПО QA Offline предназначено для проведения измерений при сканировании в непрерывном режиме, отображения результатов измерений в виде графических и табличных данных. Метрологически значимое ПО SA Inline предназначено для проведения измерений при сканировании в одиночном и многократном режимах, отображения результатов измерений в виде графических и табличных данных. Метрологически значимое ПО SA Analysis Tool выполняет функции: - отображение графических данных, показывающее нормализованную вероятность толщины/веса для конкретного измерения и нормализованную отражательную способность, используемую для расчета толщины покрытия/пленки; - отображение пиковых данных; - редактирование и настройка значения параметров анализа пиков и настроек слоя; - установка технических характеристик и графика; - отображение обзорной сетки со всеми аналитическими показаниями; - настройка пользовательского интерфейса. ПО SA Data Manager предназначено для просмотра, редактирования и добавления рецептур. Уровень защиты ПО «средний» в соответствии с Р 50.2.077-2014. Таблица 1 – Идентификационные данные ПО
Идентификационные данные (признаки)Значение
Идентификационное наименование ПОQA OfflineSA InlineSA Data ManagerSA Analysis Tool
Номер версии (идентификационный номер) ПОне ниже 3.4.3
Цифровой идентификатор ПО-
Метрологические и технические характеристикиТаблица 2 – Метрологические характеристики
Наименование характеристикиЗначение
Диапазон измерений толщины полимерной пленки и толщины полимерных покрытий на подложке или без нее, мкм - для датчика вида VIS - для датчика вида NIR - для датчика вида EXRот 10 до 50 от 10 до 180 от 10 до 250
Пределы допускаемой абсолютной погрешности измерений толщины полимерной пленки и толщины полимерных покрытий на подложке или без нее, мкм - в диапазоне от 10 до 35 включ. - в диапазоне св. 35 до 250± (0,5+0,03·Н*) ± (0,7+0,02·Н*)
____________ * Н – измеренное значение толщины, мкм.
Таблица 3 – Основные технические характеристики
Наименование характеристикиЗначение
Диапазон показаний толщины пленки и толщины покрытий на подложке или без нее, мкмот 0,5 до 350,0
Диапазон бесконтактного измерения, ммот 15 до 33
Масса электронного блока, кг, не более50
Габаритные размеры (Д(Ш(В), мм, не более1023×334×639
Параметры электрического питания сети переменного тока – напряжение переменного тока, В – частота переменного тока, Гцот 120 до 240 от 50 до 60
Условия эксплуатации: – температура окружающей среды, °С – относительная влажность, %от 0 до +50 от 10 до 90
КомплектностьТаблица 4 – Комплектность средства измерений
Наименование ОбозначениеКоличество
Система контроля толщины сухой пленки: - модуль рабочий системныйSpecMetrix DFT-QA lab1 шт.
Регулируемая линза для настройки-1 шт.
Подставка для тонкой пленки (12 дюймов)-1 шт.
Кронштейн для крепления усиленного зонда-1 шт.
Усиленный зонд (5м, Straight, VIS/NIR)-1 шт.
Зонд (1,37 м, 60нм, VIS/NIR)-1 шт.
Зонд (4 м, Con. 600 нм)-1 шт.
Усиленный зонд (10 м, ST, 200 нм)-1 шт.
Калибровочный диск-1 шт.
Комплект аксессуаров-1 шт.
Руководство по эксплуатации-1 экз.
Поверкаприведены в разделе 3.8.1 «Проведение измерений» Руководства по эксплуатации «Системы контроля толщины сухой пленки SpecMetrix DFT-QA lab. Руководство по эксплуатации»
Нормативные и технические документы, устанавливающие требования к средству измерений Приказ Федерального агентства по техническому регулированию и метрологии от 29.12.2018 г. № 2840 «Об утверждении государственной поверочной схемы для средств измерений длины в диапазоне от 1·10-9 до 100 м и длин волн в диапазоне от 0,2 до 50 мкм» Приказ Федерального агентства по техническому регулированию и метрологии от 23.12.2019 г. № 3276 «Об утверждении Государственной поверочной схемы для средств измерений толщины покрытий в диапазоне значений от 1 до 120000 мкм» Стандарт предприятия «SENSORY ANALYTICS LLC», США
Заявитель«SENSORY ANALYTICS LLC», США Адрес: 405 Pomona Drive, Greensboro, NC 27407 USA Телефон: +1 336-315-6090 Web-сайт: www.specmetrix.com E-mail: info@specmetrix.com
Испытательный центрФедеральное государственное унитарное предприятие «Всероссийский научно-исследовательский институт оптико-физических измерений» (ФГУП «ВНИИОФИ») Адрес: 119361, г. Москва, ул. Озерная, д. 46 ИНН 7702038456 Телефон: (495) 437-56-33 Факс: (495) 437-31-47 Web-сайт: www.vniiofi.ru E-mail: vniiofi@vniiofi.ru Уникальный номер записи об аккредитации в реестре аккредитованных лиц 30003-2014